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东莞市莱思测试设备有限公司
主营：高低温试验箱,快速温变试验箱,冷热冲击试验箱 - 18681023938
东莞市莱思测试设备有限公司
主营：高低温试验箱,快速温变试验箱,冷热冲击试验箱
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芯片贮存试验箱
芯片贮存试验箱适用于电子元气件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等，同时通过该试验，提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。芯片贮存试验箱是航空、汽车、家电、科研等领域*的测试设备，考核和确定电工、电子、半导体、通讯、光电、电器、汽车电器、材料等产品，在进行高低温湿热试验的温度环境变化后的参数及性能，使用的适应性，适用于学校，工厂、jun工，研发等单位。
性能：温度范围 | 0℃~+150℃ |
升温速率 | 0℃ ~ +150℃（非线性约 3.5℃/min）RT~150℃约30min |
降温速率 | +150℃ ~ 0℃（非线性约 1.0℃~1.2/min）RT~0℃约10min |
解析精度 | 0.01℃ |
温度波动度 | ±0.5℃ |
温度偏差 | ±2.0℃ |
温度均匀度 | 2.0℃ |
湿度范围 | 20%～98%RH |
湿度偏差 | 75%RH以上≤±5.0%RH、75%RH以下≤+2/-3%R.H |
湿度波动度 | ≤±2.0%R.H |
GB/T2423.1-2008试验A：低温（部分）
GB/T2423.2-2008试验B：高温（部分）
GB/T2423.3-2008试验Cab：恒定湿热
GB/T2423.4-2006试验Db：交变湿热
GB/T2423.34-2005试验Z/AD：温湿组合
GB/T2424.2-2005湿热试验导则
GB/T2423.22-2002试验N：温度变化
IEC60068-2-78试验Cab：稳态，湿热
GJB150.3-2009高温试验
GJB150.4-2009低温试验
GJB150.9-2009湿热试验
设备采用风冷式
控制仪表采用7寸触摸屏，
可使用的程序容量：较大120组；
可使用的记忆容量：每组100段次（step）；
可重复执行命令：每一个命令可达999循环次数
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